Captioning will be availiable for viewing in English, Japanese, and Korean.

Traditional CV/IV measurement solutions often struggle to keep up with evolving test requirements and increasing throughput demands. The NI PXIe-4190 LCR meter and SMU is a first-of-a-kind instrument with fF-class capacitance measurements and fA-class current measurements in a single, ultracompact instrument optimized for speed that removes the need for switching connections at the device under test. During this session, we will review common applications, discuss techniques used to compensate for parasitics, and provide a measurement demonstration using both interactive and automated software options.  

보다 향상된 CV/IV 측정 솔루션

기존 CV/IV 측정 솔루션으로는 변화하는 테스트 요구사항과 증가하는 요구 처리량을 계속 충족하는 것이 쉽지 않은 경우가 많습니다. NI PXIe-4190 LCR 미터 및 SMU는 fF 클래스 커패시턴스 측정과 fA 클래스 전류 측정이 단일 초소형 계측기에 포함된 최초의 계측기로, 테스트 대상 디바이스에서 연결을 전환할 필요가 없도록 속도에 맞게 최적화됩니다. 본 세션에서는 일반적인 어플리케이션을 살펴보고, 기생 보정에 사용되는 기술에 대해 논의하며, 대화식 및 자동화 소프트웨어 옵션을 모두 사용하는 측정 데모를 제공할 예정입니다.


従来のCV/IV測定方法では、絶えず変化するテスト要件やスループットの拡大に対する期待になかなか追いつけていなかったのが常でした。NI PXIe-4190 LCRメータおよびSMUは、fFクラスのキャパシタンス測定とfAクラスの電流測定を1つの超小型計測器で実行可能にした今までにない計測器で、検査対象デバイスでの接続間切り替えを行う必要がなくなるほどの速度を提供します。このセッションでは、よく使われるアプリケーションをいくつか参照して依存関係を補正するテクニックについて説明し、対話的ソフトウェアと自動化ソフトウェアの両方を使用した測定のデモをご覧いただきます。