新世代行動通訊標準中,資料傳輸速率覆蓋率網路延遲電池壽命以及頻寬等等對行動裝置至關重要。現今行動裝置系統組成日趨複雜,如記憶體、數位數理器、顯示及相機介面及日益增加的感測器等數位設計及充電、電源管理、或更高的電池壽命等電源議題,日益重要!

日益增加的數位介面所關注的信號完整度、印刷電路板相互間的測試、RF測試以及電源供應器的Power Integrity等測試問題,除在行動裝置,也在基站端,正因漸趨複雜的系統設計而倍受挑戰。

本次線上研討會邀請 Rohde & Schwarz 的國際專家,針對高速數位界面的驗證所面臨的棘手電路板De-embedding議題,為使用者帶來新穎眼圖的測試解決方案。並為用者解析jitter分析在高度整合的系統中如何協助研發者debugging。

在USB、SATA、MIPI等驗證方案,Rohde & Schwarz亦提出便捷的自動化測試及自動報告軟體,令研發工程師能輕鬆有效的完成繁瑣的測試步驟、電源工程師關注的電源完整性、該如何選用設備以及其對應的probe,並善用量測功能進而分析除錯,亦為本次研討會重點,機會難得,不容錯過!

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